日產(chǎn)汽車電子EMC測試標(biāo)準(zhǔn)目前按照的是28401NDS02 [5],最近一次版本修訂是2006.3.29。
其中,涉及瞬態(tài)傳導(dǎo)免疫和電性能測試的項(xiàng)目,與對應(yīng)的國際標(biāo)準(zhǔn)ISO7637、ISO16750-2比照,既有沿用的;也有日產(chǎn)只借鑒部分,在要求上作出差異化的;也有個別是完全日產(chǎn)獨(dú)有,無國際標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù)的。
首先,我們來看基本沿用ISO國際標(biāo)準(zhǔn)的測試項(xiàng)目。
一、其中,涉及電性能測試項(xiàng)目如下:
6.1. RESISTANCE TO ELECTRICAL DISTURBANCES TESTS
6.1.1. EQ/TE 01 : Resistance to power supply voltages
6.1.2. EQ/TE 02 : Resistance to slow decrease and increase power of supply voltages
6.1.3. EQ/TE 03 : Re-initialization test
6.1.4. EQ/TE 04: Resistance to non-usual power supply voltages
6.1.5. EQ/TE 05: Resistance to ground and positive supply voltages short circuit
日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)在此基礎(chǔ)上,在一些測試細(xì)節(jié)上,提出了一些更周到細(xì)致的要求,涉及到的如下:
1、 試驗(yàn)布置上,
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
2、 試驗(yàn)步驟上,對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
3、 對試驗(yàn)前的波形校準(zhǔn)參數(shù)作出了明確要求。
4、 對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、 對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
二、其中,涉及瞬態(tài)傳導(dǎo)免疫測試項(xiàng)目如下:
6.2.1. EQ/IC 07: Immunity to signal line transients
日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)在此基礎(chǔ)上,在一些測試細(xì)節(jié)上,提出了一些更周到細(xì)致的要求,涉及到的如下:
1、 試驗(yàn)布置上,
a) 明確規(guī)定了選用CCC法(容性耦合鉗法)
b) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
c) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
d) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放和線束長度作了明確規(guī)定(如下圖)。
e) 對EUT信號線的長度作了明確規(guī)定。-(1m)
f) 明確規(guī)定了試驗(yàn)中需要在容性耦合鉗靠近負(fù)載一側(cè)加載50歐姆負(fù)載。(如下圖)
2、 試驗(yàn)步驟上,對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
3、 對試驗(yàn)前的波形校準(zhǔn)參數(shù)作出了明確要求。
4、 對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、 對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
其次,我們來看僅僅借鑒了ISO國際標(biāo)準(zhǔn),在要求上有明顯差異的測試項(xiàng)目。
一、其中,涉及電性能測試項(xiàng)目如下:
6.1.10. EQ/IC 04: Resistance to power supply micro-interruptions
6.1.11. EQ/IC 05: Resistance to starting profile
6.1.12. EQ/IC 06: Resistance to on-board power system voltage ripples
接下來,我們逐一展開敘述:
6.1.10. EQ/IC 04: Resistance to power supply micro-interruptions
1、該試驗(yàn)要求借鑒了ISO16750-2的4.6.1 Momentary drop in supply voltage(供電電壓瞬時下降),差別在于,ISO標(biāo)準(zhǔn)對波形要求比較簡單,只需測一個波形,上升沿/下降沿不超過10ms,詳見下圖:
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)則需要測很多波形,歸納后如下:
Ø 10 µs 微中斷
Ø 100 µs 微中斷
Ø 5 ms 微中斷
Ø 50 ms 微中斷 EUT 處于發(fā)動機(jī)啟動狀態(tài)
Ø 50 ms 微中斷 EUT 不處于發(fā)動機(jī)啟動狀態(tài)
Ø 300 ms 微中斷
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO16750,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 對EUT需要并聯(lián)一個外置2歐姆負(fù)載作了明確規(guī)定。
e) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、電子開關(guān)、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按上圖布置,在EUT位置用一個1k歐姆負(fù)載取代,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。詳細(xì)波形參數(shù)見下圖:
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
6.1.11. EQ/IC 05: Resistance to starting profile
1、該試驗(yàn)要求借鑒了ISO16750-2的4.6.3 Starting profile(啟動電壓)的測試波形,如下圖:
差別在于,ISO16750-2標(biāo)準(zhǔn)的波形等級詳見下圖:
12V系統(tǒng)
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形,如下表,與ISO16750對比,可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的等級 I(*)基本對應(yīng)ISO標(biāo)準(zhǔn)的I
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的等級 II基本對應(yīng)ISO標(biāo)準(zhǔn)的II
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的等級 I和III是相對獨(dú)特的,無ISO波形等級能夠?qū)?yīng)。
No | I啟停系統(tǒng) | I(*) | II | III |
參數(shù) |
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO16750,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、發(fā)生器、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按上圖布置,在EUT開路狀態(tài)下(斷開連接)下進(jìn)行波形校準(zhǔn),在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
6.1.12. EQ/IC 06: Resistance to on-board power system voltage ripples
1、該試驗(yàn)要求借鑒了ISO16750-2的4.4 Superimposed alternating voltage(疊加交流電壓)的測試波形,如下圖:
差別在于,ISO16750-2標(biāo)準(zhǔn)的波形等級和掃頻參數(shù)詳見以下四條及波形:
Ø 等級1: peak to peak voltage, U PP , of 1 V, for U N = 12 V and U N = 24 V;
Ø 等級2: peak to peak voltage, U PP , of 4 V, for U N = 12 V and U N = 24 V;
Ø 等級3: peak to peak voltage, U PP , of 10 V, for U N = 24 V only;
Ø 等級4: peak to peak voltage, U PP , of 2 V, for U N = 12 V
單位:f(Hz),t(秒)
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形等級和掃頻參數(shù)詳見以下兩條及波形。
Ø 2 V (peak-to-peak) between 50 Hz and 50 kHz(對應(yīng)下方左圖掃頻譜圖)
Ø 4 V (peak-to-peak) between 50 Hz and 20 kHz(對應(yīng)下方右圖掃頻譜圖)
與ISO16750對比,可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的等級只有2個,而ISO標(biāo)準(zhǔn)的有4個,且兩者無一一對應(yīng)關(guān)系。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)有2個掃頻譜圖,且與ISO標(biāo)準(zhǔn)的掃頻譜圖均不同。
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO16750,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、發(fā)生器、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按上圖布置,示波器選擇高阻抗輸入模式,在EUT位置用一個500毫歐姆負(fù)載取代,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
二、其中,涉及瞬態(tài)傳導(dǎo)免疫測試項(xiàng)目如下:
6.1.6. EQ/IC 01: Resistance to pulses 1 and 1 bis and 2a
6.1.7. EQ/IC 02: Resistance to pulses 3a and 3b
6.1.9. EQ/IC 03: Resistance to pulse 5b
接下來,我們逐一展開敘述:
6.1.6. EQ/IC 01: Resistance to pulses 1 and 1 bis and 2a
1、該試驗(yàn)要求借鑒了ISO7637-2的Test pulse 1和Test pulses 2a的測試波形,如下圖:
Test pulse 1
Test pulse 2a
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形,詳見下圖:
日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形與ISO7637-2波形對比,可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)增加了Pulse 1 bis
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)明確了波形參數(shù)中的試驗(yàn)脈沖電壓值(日產(chǎn)中Ua等同于ISO中Us)
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)波形參數(shù)中的t值與ISO的完全一致。
再來對比日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)與ISO7637-2標(biāo)準(zhǔn)中的脈沖實(shí)施次數(shù)/時間(如下表),可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)明確了脈沖數(shù)量5000,比ISO要求的數(shù)量500要多很多。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)明確了波形參數(shù)中的試驗(yàn)脈沖電壓等級值,與ISO7637-2的三個等級值無對應(yīng)關(guān)系。
標(biāo)準(zhǔn) | 描述 |
日產(chǎn) | Pulse 1 and 1 bis: 5000 pulses of - 100 V |
Pulse 2a: 5000 pulses of + 100 V | |
ISO7637-2 | 12V系統(tǒng) |
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO7637-2,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 對EUT需要并聯(lián)一個外置2歐姆負(fù)載作了明確規(guī)定((如下圖))。
e) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、發(fā)生器、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按上圖布置,在EUT開路狀態(tài)下(斷開連接)下進(jìn)行波形校準(zhǔn),示波器選擇高阻抗輸入模式,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
6.1.7. EQ/IC 02: Resistance to pulses 3a and 3b
1、該試驗(yàn)要求借鑒了ISO7637-2的Test pulse 3a和Test pulses 3b的測試波形,如下圖:
Test pulse 3a
Test pulse 3b
Test pulse 3a/3b 12V系統(tǒng)試驗(yàn)等級與脈沖數(shù)量
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形,詳見下圖:
Pulse 3a
Pulse 3b
日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形與ISO7637-2波形對比,可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)中的f頻率是一個變化值(前30分鐘內(nèi)從1 kHz上升到 100 kHz, 后30分鐘內(nèi)從100kHz下降到 1kHz ,最大頻率步進(jìn)1 kHz),同步t1值是在10us-1ms這個區(qū)間內(nèi)變化。而ISO7637-2中的f是一個固定值(即t1=100us的倒數(shù),即10kHz)
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)波形參數(shù)中的t值(除了t1)與ISO7637-2的完全一致。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)脈沖周期60分鐘,與ISO要求的試驗(yàn)周期1小時等同。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)明確了波形參數(shù)中的試驗(yàn)脈沖電壓等級值,與ISO的三個等級值無對應(yīng)關(guān)系。
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO7637-2,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、發(fā)生器、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按上圖布置,在EUT開路狀態(tài)下(斷開連接)下進(jìn)行波形校準(zhǔn),示波器選擇高阻抗輸入模式,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
6.1.9. EQ/IC 03: Resistance to pulse 5b
1、該試驗(yàn)要求借鑒了舊版ISO7637-2 (04版)test pulse 5b也即ISO16750-2中的4.6.4 Load dump里Test B的測試波形,如下圖:
Test B
而日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形,詳見下圖:
Pulse 5a(校準(zhǔn)設(shè)定Vs值參照此圖)
Pulse 5b(日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)脈沖數(shù):5次)
日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的波形與ISO7637-2波形對比,可以得出以下結(jié)論:
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)中只需要測Pulse 5b而ISO16750-2還需要測Test A(即Pulse 5a)
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)波形參數(shù)中的t值與ISO16750-2的基本一致。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)脈沖數(shù)量5次,與ISO要求的試驗(yàn)數(shù)量一致。
Ø 日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)波形參數(shù)中的試驗(yàn)脈沖鉗位電壓等級值21.5V,低于ISO的等級值35V(12V系統(tǒng))。
2、試驗(yàn)布置以及試驗(yàn)配置上,日產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)相對ISO16750-2,也更為復(fù)雜,多了很多要求,具體如下:
a) 對EUT和線束的絕緣墊的高度作出了明確規(guī)定。-(50mm)
b) 對EUT電源線的長度作出了明確規(guī)定。-(0.2m)
c) 對EUT的試驗(yàn)周邊設(shè)施:傳感器、啟動激勵裝置的擺放作了明確規(guī)定(如下圖)。
d) 試驗(yàn)配置上明確規(guī)定了需要示波器、發(fā)生器、電源供應(yīng)器、電池,布局如下圖:
3、在試驗(yàn)步驟上,
a) 提出了試驗(yàn)前的校準(zhǔn)方案,該方案要求按下表要求,在空載狀態(tài)下進(jìn)行波形校準(zhǔn),峰值設(shè)定:+100 V ± 10 V,鉗位電壓設(shè)定21,5 V,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
b) 對EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的運(yùn)行時間(也可以理解為熱機(jī)時間)作出了明確規(guī)定。-(需要至少運(yùn)行10分鐘)
4、對試驗(yàn)報(bào)告的書寫,具體需要體現(xiàn)哪些信息作出了明確要求。
5、對試驗(yàn)判定等級作出了明確要求。
最后,我們來看完全日產(chǎn)獨(dú)有,無國際標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù)的的測試項(xiàng)目。
相關(guān)測試項(xiàng)目如下:
6.2.3. EQ/IC 09: Immunity to ignition high voltage
6.1.8. EQ/IC 10: Resistance of inductive load connected circuits
6.2.4. EQ/IC 11: Resistance to impulsive transient
接下來,我們逐一展開敘述:
6.2.3. EQ/IC 09: Immunity to ignition high voltage
1、試驗(yàn)波形和試驗(yàn)布置如下圖,測試要點(diǎn)如下:
Ø 施加高壓脈沖 - 10 kV 和 + 10 kV 至終端負(fù)載15 k ?(EQ/IC 09試驗(yàn)布置圖里的“Resistive load”)各 10 分鐘。
Ø EUT線束被耦合部位的長度至少 1 m ,耦合距離100 mm.(平行的EUT線束與高壓線之間的距離)
Ø LISN 需要符合 CISPR 25, 接50 ?負(fù)載。
EQ/IC 09試驗(yàn)波形圖
EQ/IC 09試驗(yàn)布置圖
2、試驗(yàn)實(shí)施步驟注意事項(xiàng)如下:
Ø EUT線束長度最長不超過 2m 。
Ø EUT和線束需放在50mm高度的絕緣墊上。
Ø EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的需至少連續(xù)運(yùn)行時間10分鐘(也可以理解為熱機(jī)時間)
Ø 試驗(yàn)報(bào)告的書寫,需要體現(xiàn)這些信息:試驗(yàn)布置、試驗(yàn)中的異?,F(xiàn)象數(shù)據(jù)、試驗(yàn)發(fā)生器特性以及波形圖。
6.1.8. EQ/IC 10: Resistance of inductive load connected circuits
1、該項(xiàng)測試由兩項(xiàng)試驗(yàn)組成,(1)實(shí)際電感負(fù)載法和(2)模擬(備用)負(fù)載法。試驗(yàn)波形和試驗(yàn)布置如下圖,測試要點(diǎn)如下:
EQ/IC 10試驗(yàn)波形圖(Pulse 1bis of - 100 V)
EQ/IC 10試驗(yàn)波形圖(Pulse 1bis of + 100 V)
EQ/IC 10 -實(shí)際電感負(fù)載法試驗(yàn)布置圖
EQ/IC 10 -模擬(備用)負(fù)載法試驗(yàn)布置圖
2、實(shí)際電感負(fù)載法試驗(yàn)實(shí)施注意事項(xiàng)如下:
Ø EUT和線束需放在50mm高度的絕緣墊上。
Ø 模式1:將EUT設(shè)置為使用機(jī)械負(fù)載驅(qū)動真實(shí)感應(yīng)負(fù)載,同時考慮防止過熱,這是必要且足夠的工作時間,以及足夠的間隔時間來冷卻,例如,0,2 Hz的循環(huán)和20%的工作循環(huán)。
Ø 模式2:將EUT設(shè)置為驅(qū)動鎖定的真實(shí)感應(yīng)負(fù)載,同時考慮防止過熱,這是必要且足夠的工作時間,以及足夠的間隔時間來冷卻負(fù)載,例如,0,2 Hz的循環(huán)和10%的工作循環(huán)。
3、模擬(備用)負(fù)載法試驗(yàn)實(shí)施注意事項(xiàng)如下:
Ø EUT和線束需放在50mm高度的絕緣墊上。
Ø 試驗(yàn)前需校準(zhǔn)波形,按上圖布置,在EUT開路狀態(tài)下(斷開連接)下進(jìn)行波形校準(zhǔn),示波器選擇高阻抗輸入模式,在示波器端經(jīng)調(diào)試達(dá)到符合要求的測試波形。然后再進(jìn)行EUT測試。
Ø EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的需至少連續(xù)運(yùn)行時間10分鐘(也可以理解為熱機(jī)時間)
Ø 波形發(fā)生器、傳感器、EUT均需要接地。
Ø 波形發(fā)生器內(nèi)阻應(yīng)選10Ω。
4、試驗(yàn)報(bào)告要求如下:
Ø 試驗(yàn)報(bào)告的書寫,需要體現(xiàn)這些信息:試驗(yàn)布置、試驗(yàn)中的異?,F(xiàn)象數(shù)據(jù)、試驗(yàn)發(fā)生器特性以及波形圖。
6.2.4. EQ/IC 11: Resistance to impulsive transient
1、本試驗(yàn)旨在檢查設(shè)備對開關(guān)設(shè)備和電動機(jī)觸點(diǎn)處發(fā)生的電弧放電(驟弧)引起的瞬態(tài)的抗擾度。試驗(yàn)波形、等級和試驗(yàn)布置如下圖,測試要點(diǎn)如下:
|
試驗(yàn) | 脈沖幅值 |
連接非屏蔽導(dǎo)線的針腳 | +400V |
-400V | |
屏蔽線連接的針腳。(屏蔽的一端在車內(nèi)接地。) | +120V |
-120V | |
屏蔽線連接的針腳。(屏蔽的兩端在車內(nèi)接地。) | +80V |
-80V |
EQ/IC 11試驗(yàn)等級表
EQ/IC 11試驗(yàn)波形圖
EQ/IC 11試驗(yàn)布置圖
耦合電容(應(yīng)用于上圖紅圈內(nèi)) | 進(jìn)行此測試的導(dǎo)線 |
10 nF | 連接至12 V電源的導(dǎo)線(BAT、IGN、ACC) |
470pF | 上述以外的導(dǎo)線(包括5 V電源線) |
耦合電容值的選擇
2、波形校準(zhǔn)實(shí)施步驟注意事項(xiàng)如下:
Ø 通過耦合電容器10 nF將示波器的高阻抗輸入(EUT斷開)連接到脈沖發(fā)生器輸出,并設(shè)置脈沖發(fā)生器以獲得規(guī)定正負(fù)電壓的脈沖。
Ø 同樣,通過耦合電容器470 pF設(shè)置脈沖發(fā)生器。
3、試驗(yàn)實(shí)施步驟注意事項(xiàng)如下:
Ø EUT線束長度最長不超過 2m 。
Ø 除地線外的所有導(dǎo)線的濾波器(64µH的電感器)
Ø 地線濾波器(8µH的電感器)
Ø 濾波器到EUT端子的導(dǎo)線長度最大應(yīng)為200 mm
Ø 脈沖發(fā)生器(輸出阻抗50? ) .
Ø EUT和線束需放在50mm高度的絕緣墊上。
Ø EUT在試驗(yàn)進(jìn)行前(即測試脈沖注入前)的需至少連續(xù)運(yùn)行時間10分鐘(也可以理解為熱機(jī)時間)。
Ø 所有導(dǎo)線需要一根一根單獨(dú)測。
4、試驗(yàn)報(bào)告要求如下:
Ø 試驗(yàn)報(bào)告的書寫,需要體現(xiàn)這些信息:試驗(yàn)布置、試驗(yàn)中的異?,F(xiàn)象數(shù)據(jù)、試驗(yàn)發(fā)生器特性以及校準(zhǔn)波形圖。
長沙容測電子股份有限公司致力于電磁兼容測試設(shè)備的研發(fā)以及電磁兼容測試技術(shù)的推廣普及,全力為客戶提供專業(yè)的EMC測試產(chǎn)品和解決方案。
我們的產(chǎn)品:
民用領(lǐng)域:靜電放電發(fā)生器、脈沖群發(fā)生器、雷擊浪涌發(fā)生器、射頻傳導(dǎo)抗干擾測試系統(tǒng)、工頻磁場發(fā)生器、脈沖磁場發(fā)生器、阻尼振蕩磁場發(fā)生器、交流電壓跌落發(fā)生器、振鈴波發(fā)生器、共模傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)、阻尼振蕩波發(fā)生器、直流電壓跌落發(fā)生器等
汽車領(lǐng)域:靜電放電發(fā)生器、7637測試系統(tǒng)、汽車電子可編程電源、瞬態(tài)發(fā)射開關(guān)測量、汽車線束微中斷發(fā)生器、BCI大電流注入測試系統(tǒng)、EMI接收機(jī)、輻射抗擾度測試系統(tǒng)、低頻磁場抗擾度測試系統(tǒng)、射頻輻射抗擾度測試系統(tǒng)等
軍工領(lǐng)域:靜電放電發(fā)生器、低頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)、尖峰脈沖發(fā)生器、電纜束注入測試系統(tǒng)、快速方波測試系統(tǒng)、高速阻尼振蕩測試系統(tǒng)等