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建立半電波暗室應(yīng)注意的幾個(gè)問題

發(fā)布時(shí)間:2022-06-28 16:49


在產(chǎn)品開發(fā)領(lǐng)域,電磁兼容(EMC)研究變得越來越重要。許多工程部門希望擁有自己的EMC測(cè)試環(huán)境。在EMC測(cè)試中,產(chǎn)品的輻射發(fā)射測(cè)量對(duì)測(cè)試環(huán)境和設(shè)備的要求尤為重要。輻射發(fā)射要求的環(huán)境是一個(gè)開闊場(chǎng)(OATS)或一個(gè)半電波暗室(SAC)。對(duì)于其他形式的EMC測(cè)試,有一個(gè)工作臺(tái)或屏蔽室也就足夠了;對(duì)輻射抗擾度測(cè)試指標(biāo)的實(shí)現(xiàn),則使用全電波暗室。
本文主要討論一些關(guān)于輻射發(fā)射測(cè)試的場(chǎng)地設(shè)計(jì)問題。開闊場(chǎng)為優(yōu)選的測(cè)試場(chǎng)地。然而,由于日益嚴(yán)重的電磁“污染”和開闊場(chǎng)對(duì)氣候的依賴性,半電波暗室已成為經(jīng)濟(jì)適用的替代品。本文結(jié)合民用EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),對(duì)用于輻射發(fā)射測(cè)試SAC的設(shè)計(jì)和建造問題作一些介紹。
1、屏蔽室SAC是由裝有吸波材料的屏蔽室組成的。屏蔽室將內(nèi)部容間和外部的電磁環(huán)境相隔離。環(huán)境電磁波頻譜來自包括電視信號(hào)、無線電廣播、個(gè)人通訊設(shè)備以及人為環(huán)境噪聲等等。屏蔽室的作用就是使屏蔽室內(nèi)的外部騷擾強(qiáng)度明顯低于受試設(shè)備(EUT)本身所產(chǎn)生的干擾場(chǎng)強(qiáng)。
在SAC的屏蔽室的建造中,有兩種基本構(gòu)造方法:組合型和焊接型。組合型由墻板和使墻板連接的夾具組成。墻板可以是兩面覆蓋鍍鋅薄層的膠合板或是鍍鋅的鋼板。夾具使墻板安裝成為一個(gè)整體,并保證了墻板的導(dǎo)電連續(xù)性。同時(shí),墊襯和高頻吸波材料常常被用于提高屏蔽效能。即使大多數(shù)制造商應(yīng)用同樣的屏蔽系統(tǒng)概念,但由于設(shè)備的各自特性差別導(dǎo)致市場(chǎng)上各產(chǎn)品相互之間的性能的不一致。焊接結(jié)構(gòu)是由鋼板或銅板經(jīng)焊接而成的一個(gè)緊密的針對(duì)射頻信號(hào)的密封體。這是一項(xiàng)工藝要求精密的技術(shù)。高水平的焊接體使屏蔽效能穩(wěn)定可靠,同時(shí)高性能的屏蔽效能取決于焊縫漏洞的排除。當(dāng)然,焊接結(jié)構(gòu)的不理想因素就是造價(jià)較高。
在SAC中進(jìn)行電磁兼容測(cè)試,地板是一個(gè)重要的部分。在輻射發(fā)射測(cè)試中,EUT的一部分發(fā)射信號(hào)通過地板反射,由接收天線測(cè)量接收,就象辦公室中的實(shí)際情況一樣。模擬一塊良好的地板,要使地板具備導(dǎo)電連續(xù)性,并且表面的起伏變化要盡可能小。我們可以通過建造高架地板獲得這種效果。所謂高架地板就是用與墻壁和天花板相同的金屬材質(zhì)制成的架空地板。測(cè)量和控制的電纜、電源線、轉(zhuǎn)臺(tái)的機(jī)械部分都置于高架地板之下。高架地板根據(jù)轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)械部分的情況,一般高度為30cm到60 cm。為了使地板獲得完整的導(dǎo)電連續(xù),轉(zhuǎn)臺(tái)的導(dǎo)電表面與周圍的地板是保證導(dǎo)電連續(xù)的。通常采用接地環(huán)等距空間連接的方法實(shí)現(xiàn)。

為了操作的目的,屏蔽室的穿孔是需要的。穿孔需要仔細(xì)選擇,施工時(shí)要保持屏蔽室的完整性。對(duì)一個(gè)典型的SAC包括以下介紹的幾個(gè)類型的基本穿孔。

1.1通道門顯然,至少要一個(gè)門。最常見的部件是一種凹槽接觸裝置,即單刀雙簧,門邊是單刀結(jié)構(gòu),門框是凹槽結(jié)構(gòu),凹槽內(nèi)有雙簧片保持導(dǎo)電連續(xù)性;或是氣密墊,門和門框通過壓緊保證導(dǎo)電連續(xù)性。較流行且價(jià)格低廉的是旋轉(zhuǎn)門,它有一個(gè)或兩個(gè)合頁。旋轉(zhuǎn)門可以在一個(gè)或兩個(gè)合頁上安裝吸波材料,但開門后的靜空間非常小。為了彌補(bǔ)這一點(diǎn),滑動(dòng)門也是一種選擇,它具有使用方便,價(jià)格適宜的優(yōu)勢(shì)。

1.2波導(dǎo)窗出于空氣流動(dòng)和制冷的目的,低于截止頻率的氣流通過起到截止波導(dǎo)作用的蜂窩通風(fēng)口出入,且只有很小的壓差變化。大部分波導(dǎo)窗的工作頻率可以達(dá)到10GHz。對(duì)于更高的頻率,例如達(dá)到40GHz,就需要更高級(jí)的設(shè)計(jì)。

1.3電源安裝在屏蔽室外的電源線濾波器用于電源濾波,包括轉(zhuǎn)臺(tái)、天線桿、EUT及屏蔽室內(nèi)的相關(guān)設(shè)備。濾波器適于高電流、高電壓(400V)的交直流濾波。所參考的標(biāo)準(zhǔn)為用于電器性能考核的MIL-STD-220A和用于操作安全的UL1283。

1.4燈白熾燈可以安裝在室內(nèi)。通常利用高帽燈具安裝的天花板上,以獲得充足的照明,減少對(duì)吸波材料的影響。

1.5接口板接口板也是一個(gè)截止波導(dǎo),包括用于發(fā)射測(cè)量的射頻接口、EUT信號(hào)接口、濾波器接口、光纖引入口、防火控制電纜。光纖控制電纜用于轉(zhuǎn)臺(tái)、天線桿和CCTV系統(tǒng)。其他穿孔包括各種穿入管,如制冷用途以及進(jìn)風(fēng)、排風(fēng)的機(jī)械系統(tǒng)。

2、屏蔽效能屏蔽室的性能是由屏蔽效能(SE)來定義的。它的意義也就是由于屏蔽室的存在而產(chǎn)生的信號(hào)衰減。目前,廣泛使用的定義SE的標(biāo)準(zhǔn)是NSA65-6(如表1)。在這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中,所定義的衰減等級(jí),已經(jīng)超過用EMC的測(cè)試要求,對(duì)其他一些應(yīng)用測(cè)試也是足夠的。在EMC的應(yīng)用中,SE是定義在一個(gè)或一些特殊頻率上的。在1GHz這個(gè)常用的頻率點(diǎn),組合型的屏蔽效能是100dB, 而焊接型屏蔽室可以獲得120dB,的屏蔽效能。

表1NSA65-6屏蔽效能的性能要求

在吸波材料安裝之前,要對(duì)屏蔽室的SE進(jìn)行測(cè)試,以確認(rèn)屏蔽室符合規(guī)定的屏蔽等級(jí)。與NSA65-6相似,目前論述屏蔽效能測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)還有MIL-STD-285和IEEE299-1997。在學(xué)術(shù)上,IEEE299-1997被認(rèn)為是繼寫于1956年的MIL-STD-285后,論述更為詳細(xì),范圍更廣的一個(gè)版本。既描述了測(cè)試計(jì)劃,又有嚴(yán)格的測(cè)試位置(門、板縫及其他穿孔)。由于在穿孔附近很難保證SE,所以要格外注意穿孔附近的屏蔽的完整性。

3、電磁吸波材料   電磁吸波材料安裝在屏蔽室的墻上以及天花板上,以減少表面的電磁反射。電磁輻射在入射時(shí)就被吸波材料吸收,并將部分電磁能轉(zhuǎn)化成熱能。當(dāng)然,有一些殘存的反射存在,并能會(huì)干擾測(cè)試。

表2 常用寬帶EMC吸收材料

   在SAC中,目前有兩種廣泛應(yīng)用的寬帶電磁吸收材料,根據(jù)它們的工作機(jī)理被區(qū)分為:吸收磁場(chǎng)輻射的鐵氧體和吸收電場(chǎng)輻射的加碳泡沫。混合型材質(zhì)由這兩種材料組成。當(dāng)然,還有一些特別的設(shè)計(jì),但沒有被廣泛使用。表2給出一些典型吸波材料的設(shè)計(jì)以及它們的特性。泡沫型的吸波材料大多制成錐型,而混合型則制成尖劈形狀。鐵氧體貼片一般安裝在不導(dǎo)電的墻上(通常為膠合板),這樣貼片的高頻的性能得以提高。   寬帶EMC吸波材料的設(shè)計(jì)是一個(gè)復(fù)雜的過程,需要在低頻和高頻性能、尺寸和工程造價(jià)上權(quán)衡與協(xié)調(diào)。通常,制造者在設(shè)計(jì)吸波材料時(shí)常用嘗試法,通過設(shè)計(jì),嘗試反復(fù)的過程進(jìn)行工作。為了加速設(shè)計(jì)過程,并使其經(jīng)濟(jì),許多制造者采用計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)。用計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì),吸收材料的制造和測(cè)量姑且不用管,只需先進(jìn)設(shè)計(jì),用計(jì)算機(jī)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)。如果精確的模型得以使用,大量的吸波材料的參數(shù)得以確定,無論是用大量的反復(fù)嘗試的設(shè)計(jì)方法,還是采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行輔助設(shè)計(jì),都可以生產(chǎn)出優(yōu)質(zhì)的吸波材料。   大多廠商說明吸波材料的性能時(shí),只考慮垂直入射的情況。這是一個(gè)優(yōu)化的數(shù)據(jù),只與吸波材料對(duì)直接垂直入射的性能都很好。但在SAC中效慮斜射的情況比垂直更為重要。隨著入射到屏蔽室表面的波的衰減有關(guān)系。大多數(shù)吸波材料對(duì)于垂直入射的性能都很好。但在SAC中考慮斜射的情況比垂直更為重要。隨著入射角度的增加,吸波材料性能明顯降低。所以,在設(shè)計(jì)電波暗室時(shí)這是一個(gè)重要的因素。   在SAC中,吸波材料的性能不僅僅由吸波材料的基本設(shè)計(jì)性能來決定。吸波材料的安裝質(zhì)量也起著很大的作用。特別是鐵氧體,無論是否采用混合型的設(shè)計(jì)與否,都會(huì)由于安裝不當(dāng)而導(dǎo)致性能的降低。由于單個(gè)鐵氧全貼片的尺寸的限制,在兩塊挨近的貼片間存在著小氣縫。這些小氣縫如同磁阻一樣,減小了貼片之間磁能量的連續(xù)性,因此降低了吸收效果。在細(xì)心安裝的情況下,單個(gè)氣縫會(huì)小于幾十分之一毫米寬。大的氣縫會(huì)導(dǎo)致入射小的衰減有相當(dāng)大的降低,因此允許屏蔽室的墻上的某些特殊部位有較大的反射。在吸波材料和電波暗室的設(shè)計(jì)中,必須考慮所謂的氣縫效應(yīng),因?yàn)樵趯?shí)際安裝中氣縫常常遇到。即使一個(gè)小氣縫都會(huì)降低鐵氧體貼片的性能,使實(shí)際水平低于理論水平。   吸波材料的測(cè)量是確認(rèn)它們性能的重要一環(huán)。由于SAC的低頻性能要求嚴(yán)格,吸波材料要確認(rèn)下限到30MHz的性能。從150MHz到30MHz或更低可以用同軸波導(dǎo)測(cè)量。在高頻段,可以使用其他類型波導(dǎo)(100MHz及以上)和自由空間的方式(高于800MHz)進(jìn)行測(cè)試。

4、電波暗室設(shè)計(jì)技術(shù)   為了建造符合場(chǎng)地衰減要求的SAC,測(cè)量到的歸一化場(chǎng)地衰減數(shù)值與理想開闊場(chǎng)(依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ANSIC63.4-1992)的理想值的差值應(yīng)小于4dB。這項(xiàng)指標(biāo)面臨著許多挑戰(zhàn),特別在低頻段,吸波材料的電場(chǎng)尺寸很小,而且電磁性能很差。所以,在電波暗室建造之前,需要用數(shù)字仿真,以確認(rèn)和優(yōu)化電波暗室的設(shè)計(jì)。制造者可以選擇嘗試方法來設(shè)計(jì),但這會(huì)消耗許多時(shí)間和成本。數(shù)字仿真,通過與已建造的暗室的性能測(cè)量數(shù)據(jù)的修正相結(jié)合,是今天的電波暗室的設(shè)計(jì)者的一種有效的設(shè)計(jì)工具。   在工作頻率范圍的中段和高段,入射到吸波材料的電磁波可以被認(rèn)為是平面波。在這種情況下,利用射線跟蹤的方法來模擬電波暗室的性能,會(huì)得到一個(gè)可信的有關(guān)電波暗室性能的推算。而對(duì)于低頻情況,平面波的假設(shè)不再有效。   對(duì)于低頻范圍,有關(guān)電波暗室的性能模型有兩種方法:一種是對(duì)高頻情況下的射線跟蹤技術(shù)的模擬,另一種是對(duì)裝有吸波材料的屏蔽室進(jìn)行三維情況下的麥克斯韋方程的解算。在射線跟蹤的情況下,由于吸波材料的低頻性能以及電波暗室的尺寸,必須考慮多重反射。由于低頻段的吸波材料的測(cè)試數(shù)據(jù)在任意角度入射要比垂直情況難以測(cè)量,所以數(shù)字仿真數(shù)據(jù)常被使用。要注意的是這種模擬的吸波材料性能數(shù)據(jù)與垂直入射的測(cè)量數(shù)據(jù)緊密相關(guān),以避免在電波暗室仿真中的系統(tǒng)誤差。在多級(jí)射線跟蹤模型中,測(cè)量的10m電波暗室的性能模擬要比3m電波暗室的好,這是由于在10m電波暗室中電空間足夠大,采用的吸波材料體積大,低段性能好。   由于求解三維麥克斯韋方程是一項(xiàng)深入細(xì)致的計(jì)算任務(wù),所以通常使用有限元法或有限差分法。這些方法是將需要運(yùn)算的空間分成離散的單元,以便使用麥克斯韋方程進(jìn)行運(yùn)算,對(duì)于低頻段的情況,吸波材料近似為低頻薄層,可以減輕計(jì)算的難度。然而,這種算法的精確性很大程度依靠吸波材料模型的使用,吸波材料性能的測(cè)試和大量的數(shù)據(jù)。在理論上,這種方法比射線跟蹤法精確、可靠。然而,與多級(jí)射線技術(shù)相比,吸波材料的安裝和電波暗室測(cè)量的限制導(dǎo)致實(shí)現(xiàn)過程中的不確定性,同時(shí)也使實(shí)際設(shè)計(jì)的精度有所限制。

 

5、試驗(yàn)室的建造   在以上的幾個(gè)部分,我們對(duì)幾個(gè)主要問題進(jìn)行了介紹,包括SAC的設(shè)計(jì)、屏蔽效能、吸波材料和電波暗室模型。這一部分集中討論這些方面的整體實(shí)施。   多級(jí)反射射線跟蹤方法具在方便計(jì)算的優(yōu)勢(shì)。應(yīng)用這種技術(shù),設(shè)計(jì)者可以從眾多的設(shè)計(jì)草案中選取優(yōu)化設(shè)計(jì)。一個(gè)有經(jīng)驗(yàn)的設(shè)計(jì)工程師可以通過分析整理數(shù)據(jù)來保證電波暗室的性能,而不用考慮模型化技術(shù)的固有限制。

   在建造EMC測(cè)試試驗(yàn)室時(shí),需要相當(dāng)大的空間來容納電波暗室和相關(guān)的設(shè)備。典型的設(shè)計(jì)尺寸如表3。除了表3給出的數(shù)據(jù),我們還要考慮防火設(shè)施、高架地板、加固屏蔽室的使其能夠負(fù)荷吸波材料的質(zhì)量、保證其完整性的鋼結(jié)構(gòu)。

表3 半波暗室參數(shù)

圖片

在SAC以及相關(guān)設(shè)備建造結(jié)束后,要驗(yàn)證其性能,以證實(shí)用SAC替代理想的OATS是可行的。在民有EMC設(shè)施中,SAC性能測(cè)試依照標(biāo)準(zhǔn)ANSIC63.4-1992、CISPR22或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)所描述的替代場(chǎng)方法。這些測(cè)試程序是通過比較電波暗室與OATS的場(chǎng)地衰減來證實(shí)電波暗室的性能的。場(chǎng)地衰減是按照標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于替代場(chǎng)所描述的理論,測(cè)量位于轉(zhuǎn)臺(tái)上一個(gè)靜止的圍繞EUT的區(qū)域。這個(gè)測(cè)試程序的頻率范圍是根據(jù)輻射發(fā)射對(duì)EUT測(cè)試的要求確定的。在最初的驗(yàn)證確定后,SAC 的操作應(yīng)建立在每年的驗(yàn)證基礎(chǔ)上。   SAC的性能依靠許多因素,其一是吸波材料的安裝。鐵氧體貼片的氣縫效應(yīng)要格外注意,特別是在門和其他穿孔的地方,那里的吸波材料是不連續(xù)的。門、接口板和窗的安排也要小心。注意不要在吸波材料不連續(xù)的地方引起性能問題,不要出現(xiàn)未經(jīng)處理的反射物質(zhì)引起的寄生的反射和發(fā)射。另外,地板要非常平,轉(zhuǎn)臺(tái)周圍要保證電連續(xù)性。驗(yàn)證電波暗室時(shí),天線系數(shù)起著嚴(yán)格的作用。另外,時(shí)間久了,吸波材料、尤其是尖劈泡沫會(huì)傾斜,在性能上影響較小,但有些負(fù)面的效應(yīng)。   一個(gè)重要的問題是選擇吸波材料或暗室的制造者時(shí)一定要有質(zhì)量控制。由于吸波材料性能是 SAC的電磁性能中最重要的因素,要注意制造商能否保證工廠里生產(chǎn)的每一批吸波材料的性能都是一致的。最好要有一個(gè)質(zhì)量控制程序,以保證每一批吸波材料的電磁性能都在低頻范圍內(nèi)進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)。而且,電波暗室的性能與吸波材料的安裝質(zhì)量相關(guān),所以,在安裝中安排有經(jīng)驗(yàn)的人員控制質(zhì)量是必須遵循的。   一般來說,EMC測(cè)試設(shè)備不僅僅是SAC。按預(yù)算和實(shí)驗(yàn)的需要,可以增加屏蔽的控制室和實(shí)驗(yàn)室,同樣可增加測(cè)量抗擾度的全電波暗室和預(yù)測(cè)試電波暗室。最低限度,要有足夠的空間來容納測(cè)試設(shè)備和測(cè)試人員。

  6、總結(jié)   本文談到建造SAC中的概況,但它不能完全涉及到建造SAC的所有問題。一些重要的問題,如防火安全和結(jié)構(gòu)完整性都需要進(jìn)一步研究。總之,建造SAC不是一項(xiàng)簡單的任務(wù),有大量的因素影響SAC的電磁性能能和功能。特別對(duì)于全適應(yīng)電波暗室,對(duì)于3m或10m的測(cè)試距離,質(zhì)量控制、設(shè)計(jì)能力和已有工作業(yè)績都在選擇電波暗室生產(chǎn)家方面起著重要的作用。而且,成功的操作EMC設(shè)備與測(cè)試附屬設(shè)備(轉(zhuǎn)臺(tái)、天線桿、天線、電纜)和測(cè)量儀器的使用有關(guān),同時(shí),試驗(yàn)人員的經(jīng)驗(yàn)也很重要。


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